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Intercomparability of continuous particle number based measurement techniques for nanotechnology workplaces

Asbach, C.; Kaminski, H.; Fissan, H.; Monz, C.; Dahmann, D.; Mülhopt, S. ORCID iD icon; Paur, H. R.; Kiesling, H. J.; Herrmann, F.; Voetz, M.; Kuhlbusch, T. A. J.


Zugehörige Institution(en) am KIT ITC – Bereich Thermische Abfallbehandlung (ITC-TAB)
Publikationstyp Sonstiges
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 250068394
HGF-Programm 43.98.04 (POF I, LK 01) Toxikologie und Technikfolgenabsch.
Erscheinungsvermerk EuroNanoForum 2007 : Nanotechnology in Industrial Applications, Düsseldorf, June 19-21, 2007 EUR-22833 (2007) (Abstract)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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