KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

AIF-Projekt: Verfahrens- und Werkzeugentwicklung zur on-line-fähigen und effizienten Auswertung, Kalibrierung und Defekterkennung von Sensorarrays

Keller, H.B.; Seifert, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Sonstiges
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 250078139
HGF-Programm 34.02.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 1.Zwischenbericht 11.Februar 2009 Zeitraum 2.Juni 2008 bis 11.Februar 2009 VERTRAULICH!
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page