AIF-Projekt: Verfahrens- und Werkzeugentwicklung zur on-line-fähigen und effizienten Auswertung, Kalibrierung und Defekterkennung von Sensorarrays
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Informatik (IAI) |
| Publikationstyp | Sonstiges |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 250078139 |
| HGF-Programm | 34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik |
| Erscheinungsvermerk | 1.Zwischenbericht 11.Februar 2009 Zeitraum 2.Juni 2008 bis 11.Februar 2009 VERTRAULICH! |