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AIF-Projekt: Verfahrens- und Werkzeugentwicklung zur on-line-fähigen und effizienten Auswertung, Kalibrierung und Defekterkennung von Sensorarrays

Keller, H.B.; Seifert, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Sonstiges
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 250078140
HGF-Programm 34.02.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 2.Zwischenbericht 12.November 2009 Zeitraum 12.Februar 2009 bis 12.Novemebr 2009 VERTRAULICH!
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