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Analytic CRS formula for a 2D curved measurement surface and finite-offset reflections

Chira-Oliva, Pedro; Tygel, Martin; Zhang, Yonhai; Hubral, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Geophysikalisches Institut (GPI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0963-0651
KITopen-ID: 25172002
Erschienen in Journal of seismic exploration
Verlag Geophysical Press
Band 10
Heft 1/3
Seiten 245-262
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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