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Datenfusion zur Gewinnung hochwertiger Bilder am Beispiel der Kriminaltechnik

Beyerer, Jürgen; Puente Leon, Fernando


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/25397
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA253979
KITopen-ID: 25397
Erschienen in IPK-Workshop und Ausstellung "Bildauswertung für Handel, Banken und Behörden", 19. und 20. Februar 1997
Verlag Berlin
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