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Aspekte der BICT-Testmethoden

Adams, Marcus; Mueller, Bernhard; Wenzel, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrorechner und Automation (Inst. f. Mikrorech. u. Aut.)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 254589
Erscheinungsvermerk Design u. Elektronik 22 (1989) S. 104-116.
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