KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Image processing methods for the macroscopic acquisition of high-quality images of surfaces and tools

Puente Leon, Fernando


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/25497
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 91-7197-470-9
urn:nbn:de:swb:90-AAA254975
KITopen-ID: 25497
Erschienen in Proceedings of the 7th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 2nd - 4th April 1997, Part 2. Ed.: B.-G. Rosén
Verlag Univ. of Technology
Seiten 452 - 459
Serie Metrology and properties of engineering surfaces ; 2
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page