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URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA254975

Image processing methods for the macroscopic acquisition of high-quality images of surfaces and tools

Puente Leon, Fernando



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 91-7197-470-9

KITopen-ID: 25497
Erschienen in Proceedings of the 7th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, 2nd - 4th April 1997, Part 2. Ed.: B.-G. Rosén
Verlag Univ. of Technology, Göteborg
Seiten 452 - 459
Serie Metrology and properties of engineering surfaces ; 2
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