Measurement of conducted emissions - possible sources for measurement uncertainties
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 256299 |
| Erscheinungsvermerk | In: Symposium record. IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Seattle, Wash. 1999. S. 370-375. |