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Measurement of conducted emissions - possible sources for measurement uncertainties

Krattenmacher, Hans; Schwab, Adolf J.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 256299
Erscheinungsvermerk In: Symposium record. IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Seattle, Wash. 1999. S. 370-375.
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