Ein optisches Meßsystem zur Echtzeitanalyse von Konturen mit der PLL-Schaltung
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1996 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 257096 |
| Erscheinungsvermerk | In: Mustererkennung 1996. 18. DAGM-Symposium, Heidelberg 1996. Hrsg.: B. Jähne. Berlin 1996. S. 289-300. |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Sonderdrucknummer 97S181 |