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Analyse des constantes d'elasticite radiocristallographiques et des constraintes residuelles d'usinage des ceramiques AIN par diffraction des rayons X

Cifarelli, Thomas; Kaempfe, Andreas; Eigenmann, Bernd; Loehe, Detlef


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 257497
Erscheinungsvermerk In: Actes du Colloque sur les Constraintes Residuelles dans les Procedes d'Elaboration des Ceramiques et les Traitements des Surface, Univ. de Limoges, Fac. des Sci. 1997. S. 83-90 und in: Colleges Rayons X et Matiere, Strasbourg 1997.
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