Omnibus tests of fit for exponentiality based on a characterization via the mean residual life function
Baringhaus, Ludwig; Henze, Norbert
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Mathematik – Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2000 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0932-5026 KITopen-ID: 25852000 |
| Erschienen in | Statistical Papers |
| Verlag | Springer |
| Band | 41 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 225 - 236 |