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Omnibus tests of fit for exponentiality based on a characterization via the mean residual life function

Baringhaus, Ludwig; Henze, Norbert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mathematische Stochastik (Inst. f. Math. Stochastik)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0932-5026
KITopen ID: 25852000
Erschienen in Statistical Papers
Band 41
Heft 2
Seiten 225 - 236
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