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High rate X-ray imaging using multi-GEM detectors with a novel readout design

Bachmann, S.; Kappler, Steffen; Ketzer, B.; Mueller, Thomas; Ropelewski, L.; Sauli, F.; Schulte, E.

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DOI: 10.5445/IR/26012001
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2001
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-AAA260120014
KITopen-ID: 26012001
Erscheinungsvermerk In: Proceedings of the Vienna Conference on Instrumentation, 2001.
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