On-line characterization of submicron particles from high concentration sources via mobility analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1998 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 260798 |
| Erscheinungsvermerk | Chem. engng. and technol. 21 (1998) S. 253-260. |