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Analyse und Vorhersage der Tauglichkeit von Absorberkammern für EMV-Meßzwecke

Bornkessel, Christian; Uhlmann, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 261294
Erscheinungsvermerk In: 4. Internationaler Kongreß für Elektromagnetische Verträglichkeit, EMV '94, Karlsruhe 1994. S. 269-278.
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