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Elektromagnetische Rückwirkung der Meßumgebung in der EMV Meß- und Prüftechnik

Kunz, Siegbert



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 268694
Erscheinungsvermerk Düsseldorf 1994. (Fortschrittberichte VDI. Reihe 8. 403.) Zugl.: Fak. f. Elektrotechnik, Diss. v. 13.12.1993.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik (Fak. für Elektrotech.)
Institut Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Prüfungsdaten Diss. v. 13.12.1993
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