Elektromagnetische Rückwirkung der Meßumgebung in der EMV Meß- und Prüftechnik
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 1994 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 268694 |
| Verlag | Universität Karlsruhe (TH) |
| Erscheinungsvermerk | Düsseldorf 1994. (Fortschrittberichte VDI. Reihe 8. 403.) Zugl.: Fak. f. Elektrotechnik, Diss. v. 13.12.1993. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik (Fak. für Elektrotech.) |
| Institut | Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH) |
| Prüfungsdaten | Diss. v. 13.12.1993 |