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Numerical simulation of shear band patterning in biaxial compression tests

Tejchman, Jacek; Wu, Wei



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Bodenmechanik und Felsmechanik (IBF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 269892
Erscheinungsvermerk In: Localized damage 92. Proceedings of the 2nd International Conference on Computer- Aided Assessment and Control of Localized Damage, Southampton, England 1992. Ed.: M.H. Aliabadi. Southampton 1992.
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