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Recent progress in high precision nuclear spectrometry with semiconducters

Horsch, F.; Meyer, O.; Michaelis, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1968
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 270002528
Reportnummer: KFK-778
Erscheinungsvermerk KFK-778 (Juli 68)
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