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Vergleich von Lang- und Kurzzeitvertraeglichkeitsuntersuchungen an UN und UO₂

Goetzmann, O.; Hein, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1969
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 270003079
Reportnummer: KFK-1086
Erscheinungsvermerk KFK-1086 (Nov. 69)
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