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Relations between Relevant Parameters for Inspection Procedures

Avenhaus, R.; Gmelin, W.; Gupta, D.; Winter, H.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270003636
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Reaktorphysik (IAR_CN)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1970
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270003636
Reportnummer: KFK-908
Erscheinungsvermerk IAEA Working Panel on Systems Analysis, held at Vienna on Aug. 25-29, 1969 KFK-908 (Maerz 70)
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