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Expected Measurement Accuracies and Limits of Error in a Fabrication Plant for High Enriched Uranium

Gupta, D.; Kraemer, R.; Schinzer, F.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270006022
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270006022
Reportnummer: KFK-1695
Erscheinungsvermerk KFK-1695 (Januar 73)
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