Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 1973 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 270006046 Reportnummer: KFK-1525 |
| Erscheinungsvermerk | Physica status solidi (a), 16(1973) KFK-1525 (April 72 - April 73) |