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Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements

Linker, G.; Meyer, O.; Scherber, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 270006046
Reportnummer: KFK-1525
Erscheinungsvermerk Physica status solidi (a), 16(1973) KFK-1525 (April 72 - April 73)
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