KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Analysis of Phosphosilicate Glass Layers by Backscattering and Channelling Effect Measurements

Linker, G.; Meyer, O.; Scherber, W.

Open Access Logo


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270006046
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1973
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270006046
Reportnummer: KFK-1525
Erscheinungsvermerk Physica status solidi (a), 16(1973) KFK-1525 (April 72 - April 73)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page