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Analysis of Thin Evaporated and Sputtered Superconducting Films by the Backscattering Technique

Gettings, M.; Kraeft, B.; Linker, G.; Meyer, O.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270007508
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1974
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270007508
Reportnummer: KFK-2013
Erscheinungsvermerk KFK-2013 (Dezember 73)
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