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Systematische Fehler bei der Flaechenanalyse mit der Kombination Epidiaskop - Bildanalysator

Schulz, B.; Biel, J.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270007785
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1975
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 270007785
Reportnummer: KFK-2136
Erscheinungsvermerk Praktische Metallographie, 12(1975) KFK-2136 (Januar 75)
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