KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Channelling effect measurements of ⁴He-induced damage in V₃Si single crystals

Meyer, O.; Seeber, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1978
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 270010710
Reportnummer: KFK-2659
Erscheinungsvermerk Solid State Communications, 22(1977) In: KfK-2659 (Maerz 78)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page