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Optimales Importance Sampling fuer die Ausfall-Wahrscheinlichkeit von periodisch inspizierten Parallelsystemen

Wenzelburger, H.; Schneider, Ch.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1978
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 270012847
Reportnummer: KFK-2700
Erscheinungsvermerk In: Projekt Nukleare Sicherheit. Halbjahresbericht 1978/1. KfK-2700 (November 78) /14
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