Optimales Importance Sampling fuer die Ausfall-Wahrscheinlichkeit von periodisch inspizierten Parallelsystemen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 1978 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 270012847 Reportnummer: KFK-2700 |
| Erscheinungsvermerk | In: Projekt Nukleare Sicherheit. Halbjahresbericht 1978/1. KfK-2700 (November 78) /14 |