Mustererkennung und Prognoseverfahren in parametrischen Signalmodellen zu Fehlerfruehdiagnosen
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT) |
| Publikationstyp | Forschungsbericht/Preprint |
| Publikationsjahr | 1987 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 270025078 Reportnummer: KFK-4197 |
| Erscheinungsvermerk | KfK-4197 (Juni 87) |