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The determination of the dielectric parameters of ceramic materials by Q-meter measurements

Heidinger, R.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270027653
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 270027653
Reportnummer: KFK-4573
HGF-Programm 03.02.01 (Vor POF, LK 01)
Erscheinungsvermerk KfK-4573 (Juni 89)
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