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DOI: 10.5445/IR/270036287

Rechnergestützte Vermessung von dreidimensionalen Mikrostrukturen

Stucky, K.U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 1994
Sprache Deutsch
Identifikator URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA2700362871
KITopen ID: 270036287
Reportnummer: KFK-5393
HGF-Programm 41.05.01; LK 01
Serie KfK-Berichte ; 5393
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