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Beschreibung von Verweilzeitmessungen mit Hilfe von Diffusion-Advektion

Nagel, K.; Oser, B.; Eberhard, M.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/270076380
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seit 30.04.2018
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seit 02.05.2016
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
ITC – Bereich Thermische Abfallbehandlung (ITC-TAB)
Publikationstyp Forschungsbericht
Jahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:0005-074733
KITopen-ID: 270076380
Reportnummer: FZKA-7473
HGF-Programm 35.03.01 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk Wissenschaftliche Berichte, FZKA-7473 (September 2009)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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