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Advanced methods for system design under EMC constraints

Benz, Thomas; Frei, D.; Petirsch, Markus; Akpebu, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 272697
Erscheinungsvermerk In: Electromagnetic compatibility 1997. 12th International Zurich Symposium and Technical Exhibition on Electromagnetic Compatibility. Zurich : ETH Zentrum - IKT 1997. S. 293-298.
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