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Shielding effectiveness of a 19"-case through direct current injection

Bernauer, Jürgen; Weis, R.; Schwab, Adolf J.



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seit 14.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Elektroenergiesysteme und Hochspannungstechnik (IEH)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 272897
Erscheinungsvermerk In: IEEE 1997 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC, Austin, Tex. 1997.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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