SYPKOL - SYstem zur Pruefung und KOnstruktion von Leiterplattengeraeten

Tilgner, P.; Brown, Boveri und Cie AG, Mannheim [Hrsg.]

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seit 16.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Computer Aided Design (CAD)
Publikationstyp	Forschungsbericht/Preprint
Publikationsjahr	1977
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 273000626 Reportnummer: KFK-CAD 37
Erscheinungsvermerk	KFK-CAD 37 (Juli 77)