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Apects of BICT test methodologies

Adams, Markus; Mueller, Bernhard; Wenzel, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrorechner und Automation (Inst. f. Mikrorech. u. Aut.)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 273289
Erscheinungsvermerk In: Conference and Exhibition EuroBus, London 1989. S. 291.
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