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LP-MOCVD growth of GaN on silicon substrates - comparison between AlAs and ZnO nucleation layers

Strittmatter, A.; Krost, Alois; Tuerck, Volker; Strassburg, Martin; Bimberg, Dieter; Blaesing, J.; Hempel, T.; Christen, Jürgen; Neubauer, Brigitte; Gerthsen, Dagmar


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 274699
Erscheinungsvermerk Mater. sci. and engng. B 59 (1998) S. 29.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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