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MBE growth and structural properties of GaN and AlN on 3C-SiC(001) substrates

Gerthsen, Dagmar; Neubauer, Brigitte; Dieker, Christel; Lantier, Roberta; Rizzi, Angela; Lueth, Hans


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 274999
Erscheinungsvermerk J. of cryst. growth 200 (1999) S. 353.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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