Atomic scale strain and composition evaluation from high-resolution transmission electron microscopy images
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 275099 |
| Erscheinungsvermerk | Adv. in imaging and electron phys. 107 (1999) S. 121-230. |
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seit 19.11.2020
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