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Atomic scale analysis of the indium distribution in InGaAs/GaAs(001) heterostructures: segregation, desorption and the effect of growth interruption

Rosenauer, Andreas; Oberst, Wieland; Gerthsen, Dagmar; Foerster, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 275899
Erscheinungsvermerk Thin solid films 357 (1999) S. 18.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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