Probabilistische Testbarkeitsanalyse im VLSI- Entwurfssystem VENUS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 277689 |
| Erscheinungsvermerk | In: Entwurf integrierter Schaltungen. 4. E.I.S.-Workshop. Hrsg.: H. Heckl. Sankt Augustin 1989. S. 146-156. |