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Probabilistische Testbarkeitsanalyse im VLSI- Entwurfssystem VENUS

Rudolph, Martin



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 277689
Erscheinungsvermerk In: Entwurf integrierter Schaltungen. 4. E.I.S.-Workshop. Hrsg.: H. Heckl. Sankt Augustin 1989. S. 146-156.
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