Weiterentwicklung von Spektrometersystemen für den NIR-Bereich

Kühner, T.; Krippner, P.; Oppermann, S.; Last, A.; Mohr, J.; Wicht, P.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Hauptabteilung Prozessinstrumentierung und Elektronik (HPE) Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 280047313
HGF-Programm	41.07.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten	219-20
Erscheinungsvermerk	4.Statuskolloquium des Programms Mikrosystemtechnik, Karlsruhe, 30.-31.März 2000 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6423 (März 2000)