Materialprüfung für verschleißbeanspruchte Mikrobauteile

Schneider, J.; Dieter, S.; Fett, T.; Leiste, H.; Pyzalla, A.; Reimers, W.; Rohde, M.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2000
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 280048690
HGF-Programm	41.01.03 (Vor POF, LK 01)
Seiten	75-84
Erscheinungsvermerk	Material- und Verfahrensentwicklung für mikrotechnische Hochleistungsbauteile, Statuskolloquium, Forschungszentrum Karlsruhe, 25.Oktober 2000 Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6528 (Oktober 2000)