ELMINA. Elektronische Mikronasen für Überwachungs- und Regelaufgaben in Gebäuden und Produktionsanlagen. Ergebnisse des Instituts für Instrumentelle Analytik (IFIA)

Rapp, M.; Bender, F.; Lubert, K.; Voigt, A.; Goschnick, J.; Frietsch, M.; Walter, T.; Arnold, C.; Häringer, D.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp	Buchaufsatz
Publikationsjahr	2003
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 280055681
HGF-Programm	41.06.02 (Vor POF, LK 01)
Seiten	14-132
Erscheinungsvermerk	Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6893 (Oktober 2003)