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ELMINA. Elektronische Mikronasen für Überwachungs- und Regelaufgaben in Gebäuden und Produktionsanlagen. Ergebnisse des Instituts für Instrumentelle Analytik (IFIA)

Rapp, M.; Bender, F.; Lubert, K.; Voigt, A.; Goschnick, J.; Frietsch, M.; Walter, T.; Arnold, C.; Häringer, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Instrumentelle Analytik (IFIA)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 280055681
HGF-Programm 41.06.02; LK 01
Seiten 14-132
Erscheinungsvermerk Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6893 (Oktober 2003)
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