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ELMINA. Elektronische Mikronasen für Überwachungs- und Regelaufgaben in Gebäuden und Produktionsanlagen. Ergebnisse des Instituts für Angewandte Informatik (IAI)

Keller, H.; Matthes, J.; Fouda Manga, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 280055684
HGF-Programm 41.06.03 (Vor POF, LK 01)
Seiten 185-217
Erscheinungsvermerk Wissenschaftliche Berichte, FZKA-6893 (Oktober 2003)
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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