KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Metrization of epi-convergence: an application to the strong consistency of M-estimators

Rachev, Svetlozar T.; DALL'AGLIO, Marco


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Wirtschaftswissenschaften – Institut für Statistik und Mathematische Wirtschaftstheorie (SMW)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 283299
Erscheinungsvermerk J. of computational anal. and appl. 1 (1999) S. 63-86.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page