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Nanometer-scale structuring by application of scanning probe microscopes and self-organisation processes

Schimmel, Thomas; Blanckenhagen, P. von; Schommers, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 286399
Erscheinungsvermerk Appl. phys. A 68 (1999) S. 263ff.
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