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True atomic resolution under ambient conditions obtained by atomic force microscopy in the contact mode

Schimmel, Thomas; Koch, Th.; Küppers, J.; Lux-Steiner, M.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s003390050912
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Zitationen: 22
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0340-3793, 0947-8396, 1432-0630
KITopen-ID: 286699
HGF-Programm 42.02.02 (Vor POF, LK 01)
Erschienen in Applied physics / A
Verlag Springer
Band 68
Heft 4
Seiten 399-402
Erscheinungsvermerk Appl. phys. A 68 (1999) S. 399.
Nachgewiesen in Dimensions
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