True atomic resolution under ambient conditions obtained by atomic force microscopy in the contact mode
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0340-3793, 0947-8396, 1432-0630 KITopen-ID: 286699 |
| HGF-Programm | 42.02.02 (Vor POF, LK 01) |
| Erschienen in | Applied physics / A |
| Verlag | Springer |
| Band | 68 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 399-402 |
| Erscheinungsvermerk | Appl. phys. A 68 (1999) S. 399. |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science OpenAlex Scopus |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |