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Depolarization nearfield scanning optical microscopy: influence of wavelength and tip-shape on the lateral resolution

Freymann, Georg von; Wegener, Martin; Schimmel, Thomas


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/286999
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0142-2421
urn:nbn:de:swb:90-AAA2869996
KITopen-ID: 286999
Erschienen in Surface and Interface Analysis
Verlag John Wiley and Sons
Band 27
Heft 5-6
Seiten 499-502
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