Depolarization nearfield scanning optical microscopy: influence of wavelength and tip-shape on the lateral resolution
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0142-2421 urn:nbn:de:swb:90-AAA2869996 KITopen-ID: 286999 |
| Erschienen in | Surface and Interface Analysis |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 27 |
| Heft | 5-6 |
| Seiten | 499-502 |