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More accurate determination of chamber performance using SA measurements compared to computational results

Haala, Jens; Wiesbeck, Werner


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 287398
Erscheinungsvermerk In: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, EMC'98, Denver, Colo. 1998.
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