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Bounding the test sequence length of sequential circuits by the partial scan design

Kunzmann, Arno



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 289892
Erscheinungsvermerk In: 1992 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, San Diego, CA 1992. Piscataway, NJ 1992.
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