KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Bounding the test sequence length of sequential circuits by the partial scan design

Kunzmann, Arno


Zugehörige Institution(en) am KIT Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität)
Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 289892
Erscheinungsvermerk In: 1992 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, San Diego, CA 1992. Piscataway, NJ 1992.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page