Bounding the test sequence length of sequential circuits by the partial scan design
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 289892 |
| Erscheinungsvermerk | In: 1992 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, San Diego, CA 1992. Piscataway, NJ 1992. |