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Generation of deterministic test patterns by minimal basic test sets

Kunzmann, Arno



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 289992
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. European Design Automation Conference / EURO-VHDL '92, Hamburg, Germany 1992. Los Alamitos, Calif. 1992. S. 312-317. (ACM conference proceedings series. 26.)
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