Generation of deterministic test patterns by minimal basic test sets
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Universität Karlsruhe (TH) – Einrichtungen in Verbindung mit der Universität (Einrichtungen in Verbindung mit der Universität) FZI Forschungszentrum Informatik (FZI) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1992 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 289992 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. European Design Automation Conference / EURO-VHDL '92, Hamburg, Germany 1992. Los Alamitos, Calif. 1992. S. 312-317. (ACM conference proceedings series. 26.) |