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A Bayesian approach to asses the relevance of prior knowledge

Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 1997
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 951-96042-9-4
KITopen-ID: 292397
Erschienen in New measurements - challenges and visions; XIV IMEKO World Congress, 1 - 6 June 1997; 1 CD-Rom
Verlag MEKO
Seiten 95 - 100
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